※ 引述《Mauder (知福..惜福..)》之铭言： : 请问各位大大 : 小弟在寻找制程里有关device matching的参数 : 想要知道TSMC 0.18um制程里两个需要matching的device相距在不同的距离下 : 会有多少mismatch : 包含mosfet的Vt mismatch或者是电阻的阻值mismatch等等 : 这应该会是一个统计参数 配合距离大小可以大致预测出device之间在不同 : 距离下的mismatch大小 : 我找了所有文件但是没有找到这方面的参数资料 : 虽然.18制程有mismatch model 但其中似乎没有探讨到距离方面造成的mismatch : 请问有没有大大知道这样的制程资料参数会放在哪个文件里呢? : 抑或是可以麻烦大大提供资料? : 感激不尽! 它应该会被描述在MOS 的model里面，看是WPE(well proximity effect) 还是LOD (length of diffusion)，分别是sa, sb与 sc..,, 不过这也要DRC(design rule check)的command file也有提供相关的功能。 这些数值只是个参考值，用来跑模拟。等到layout划好，抽出这些参数，再带回你的 模拟里。 --

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