作者zxvc (执着)
看板Electronics
标题Re: [问题] Design Compiler write_scan_def
时间Thu Apr 8 12:59:46 2010
※ 引述《zxvc (执着)》之铭言：
[恕删]
: : 2.直接执行CHIP level synthesis
: : 这方法较简单 写出来的scandef直接使用不需修改
: 其实我知道chip-level syn可以避开这个问题。
: 但我之所以这次不用chip-level syn的原因是：
: 我用的制程(UMC 90nm)的IO pads是bidirectional pads。
: 每个pad不止两个pins，还有一些control pins。
: 在scan chain insertion时，Design Compiler(DC)会依据
: 你用set_dft_signal所指定的port去串。DC会从port跨过pad
: 接到core。问题是因为bidirectional pads有太多pins，
: DC无法判定跨过pads後要往哪个pins接到core，所以有可能发生接错的情形。
: 像我chip-level syn的结果，我的scan data in ports就没接到我的core。
Ya! 我解决了。
set_dft_signal有个hookup_pin的选项让你可以手动选择pad连到core的pin。
例如：
set_dft_signal -view spec -type ScanDataIn -port SI
-hookup_pin ipad_SI/O
SI是chip的port，ipad_SI的O pin接到core。
: : 请你参考
: 谢谢你的建议。
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1F：推 Aragom:这系列的文章值得版主m起来, 不错的经验谈分享 04/09 10:05