关於 IC 讯号的量测 跟大家推荐一个最近看到的活动 http://ni.com/taiwan/sts2010 3/23 在台北 Semiconductor Test Summit NI 跟 Teradyne, Tektronix, Chroma 等公司共同参与的 我们公司蛮多人都已经报名 会去听听看 ※ 引述《lulu618 (虫虫)》之铭言： : ※ 引述《wwwok (AIC)》之铭言： : : 最近下线的晶片回来了 : : 要准备开始痛苦的量测地狱了 : : 想请问一下板上的各位大大 : : 在量测方面 不论是仪器也好或是探针等等的 : : 有没有什麽经验可以分享一下的呢 : : 小弟这边可以稍微提供一些较粗浅的经验 : : 例如使用示波器时 可以善用average的功能 : : 使出来的波形更为漂亮 : : 又使用POWER SUPPLY时 可以在输出与地之间并联一颗电容 : : 可以滤掉一些杂讯(不过就我看来感觉没啥用处?有误的地方请高手补充一下) : : 另外还有就是 示波器的探棒要是量测方便且许可的话 : : 可以直接把头上的盖子给拔掉 用里面的尖针直接接触待测物 : : 也可以减少许多杂讯 以上有些由安捷伦的工程师所提供 : : 并不保证有用 就请大家讨论看看罗^^ : 示波器的部分我也来补充一下 : 蔽天线效应 : 如果量测杂讯很大时 可以使用这个方法 : 如wwwok板友所说 先将探针前面的套子拔下 : 会看到一根尖针 旁边则有一片金属环 : 那就是探棒的地 : 可以拿一条铜线先绕在地上面几圈 留只引脚然後拿下来 : 对於探针的部分也照做 : 这样会有两个像长了尾巴的大小弹簧 : 再来就是把小弹簧焊到你要量测的点上 : 大弹簧焊到离量测点最近的地上 : 要量测时将探棒依序插入大弹簧 小弹簧 : 可以减少量测的杂讯产生 : 原理是减少回路的面积 --

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