作者lulu618 (虫虫)
看板Electronics
标题Re: [问题] 请问一下IC量测方法
时间Fri Mar 5 10:11:49 2010
※ 引述《wwwok (AIC)》之铭言:
: 最近下线的晶片回来了
: 要准备开始痛苦的量测地狱了
: 想请问一下板上的各位大大
: 在量测方面 不论是仪器也好或是探针等等的
: 有没有什麽经验可以分享一下的呢
: 小弟这边可以稍微提供一些较粗浅的经验
: 例如使用示波器时 可以善用average的功能
: 使出来的波形更为漂亮
: 又使用POWER SUPPLY时 可以在输出与地之间并联一颗电容
: 可以滤掉一些杂讯(不过就我看来感觉没啥用处?有误的地方请高手补充一下)
: 另外还有就是 示波器的探棒要是量测方便且许可的话
: 可以直接把头上的盖子给拔掉 用里面的尖针直接接触待测物
: 也可以减少许多杂讯 以上有些由安捷伦的工程师所提供
: 并不保证有用 就请大家讨论看看罗^^
示波器的部分我也来补充一下
蔽天线效应
如果量测杂讯很大时 可以使用这个方法
如wwwok板友所说 先将探针前面的套子拔下
会看到一根尖针 旁边则有一片金属环
那就是探棒的地
可以拿一条铜线先绕在地上面几圈 留只引脚然後拿下来
对於探针的部分也照做
这样会有两个像长了尾巴的大小弹簧
再来就是把小弹簧焊到你要量测的点上
大弹簧焊到离量测点最近的地上
要量测时将探棒依序插入大弹簧 小弹簧
可以减少量测的杂讯产生
原理是减少回路的面积
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※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc)
◆ From: 140.124.41.208
1F:→ francislai:不知道是不是,我用过的量测平台并不用这样做耶。 03/05 10:49
2F:→ lulu618:看电路罗 低频就不太需要 高频会有改善 03/05 12:06