作者maxwellee (maxwell)
看板Electronics
标题Re: [问题] scan设定中 除频电路设定问题
时间Sun Nov 1 01:07:21 2009
感谢你的回应..
可是 不太懂...
是这样的意思吗..
assign clk1=(scan_en)?clk:clk_gen
clk--------------------------|\
| _______ | |_____clk1
|__|clk gen|____________| |
|_______| clk_gen |/
|
scan_en
感谢
※ 引述《ilovepachaya (我是好牛肉)》之铭言:
: ※ 引述《maxwellee (maxwell)》之铭言:
: : 我在Design compiler中加入scan设定
: : 可是发现导入不了除频电路
: : 请问是还要再加入什麽设定吗?
: : 听说有除频电路的话 要再加入一条scan
: : 可是加入後 他还是吃原来的clk 请问还要加入什麽设定吗?
: : 以下是原来使用的设定:
: : compile_ultra -scan
: : set_dft_configuration -fix_set enable
: : set_scan_configuration -chain_count 1 -clock_mixing mix_edges
: : set_dft_signal -view exist -type ScanClock -timing {45 55} -port {clk}
: : set_dft_signal -view exist -type Reset -active 1 -port rst
: : set_dft_signal -view spec -type ScanEnable -port se -active 1
: : set_dft_signal -view spec -type ScanDataIn -port {inr[7]}
: : set_dft_signal -view spec -type ScanDataOut -port {out0r[7]}
: : set_scan_path chain1 -view spec -scan_data_in inr[7] -scan_data_out out0r[7]
: : create_test_protocol
: : preview_dft -show all
: : dft_drc
: : insert_dft
: : dft_drc -coverage_estimate
: 有除频器的地方可以在除频器的前面加上一个mux
: 在function mode 时mux pass 除频後的clock
: 在test mode时mux pass 原始的clock
: 在串
: scan时 将mux的sel脚设为test mode
: 这样在串scan chain时clock会将原始的clock与除频後的clock mix在一起
: 就可以pass过去
: mux的sel脚 可以跟scan_en用同支脚就可以
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※ 编辑: maxwellee 来自: 203.68.162.102 (11/03 11:16)