作者jfsu (水精灵)
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标题Re: [问题] 有关 MOS WAFER 晶向问题
时间Mon Jun 2 19:01:45 2008
※ 引述《d813235 (黑仔)》之铭言:
: 一般常看到的Wafer很像大都是(100)的晶向,有听老师说过
: 很像(100)的腐蚀高过(111),但只提到一点点
: 我在想是不是还有其他原因
: 不知道有没有人知道这个资料呢 谢谢
我们先来说说为何BJT要用(111)的做,而MOS要用(100)。
这部份主要是考虑到,在蚀刻与离子布值时对元件特性的问题。
之所以BJT 制造於(111)wafer上,是因为过去使用扩散或离子布值(Ion Implant)的
方式将 Emitter与Base layers垂直的将dopant参入。依此方法若使用(100) wafer时,
dopant会经由(100)面中的通道(channel) 加速扩散渗入,使得每层layer的深度不均,
(甚至有Emitter和Collector相连的现象),导致元件通通都死掉。
而(111)wafer从上往下看,晶体结构中没有如(100)的channel,所以扩散或用ion
implant的dopant深度均匀且易控制,不过,现在用磊晶(epitaxy)後,可能就不同了。
再者,MOS制作於(100)wafer上是为了让gate oxide 有较好的品质。若使用(111)wafer
由於表面矽的接脚较多支,而氧接上去後,表面或氧化层仍会残留有许多悬键(dangling
bonds),做成元件後,这些地方则成了氧化态(oxide state)或是所谓的表面态(surface
state),载子一经过就被捉住,陷在里面出不白,结果元件特性就变差了。
至於你的蚀刻问题,小弟先不讲,你可以去翻阅一下制程的书,或是搜索关键字
"横向蚀刻" or "纵向蚀刻(vertical etching)"或是"非等向性蚀刻"这类的字,
另外,这也跟蚀刻速率有关。
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1F:推 d813235:原来是这样呀!! 谢谢你 06/05 11:29