作者cgn (cgn...)
看板Electronics
标题[问题] 想请教一些关於Hspice与noise的问题
时间Wed Jan 24 13:45:56 2007
小弟目前遇到一些问题
想请教各位前辈
问题1:
假设一个电路具有多种noise来源,
hspice有方法可以分别测量各个noise的大小吗?
还是只能量测总体大小?
问题2:
假设之後下线回来,
是否能够测量晶片上面
各个noise的大小吗?
--
※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc)
◆ From: 140.113.149.39