作者NeoCPT (post blue)
看板Electronics
标题Re: [心得] Early和CLM效应
时间Sat Dec 2 13:44:30 2006
※ 引述《boboptt (boboptt)》之铭言：
: 请问FET的通道长度调变效应
: 和BJT的Early效应
: 是否有意味着电晶体输出不能无限大呢(要不会电晶体会坏掉)
: 感觉是很愚笨的问题 不过还是希望有人来帮我确认^^ 谢谢
任何两端电压太高都可能会坏掉 (breakdown)
不过这和通道长度调变没有直接关系
输出电压无限大更是不可能
但如果你的意思是输出阻抗的话
那的确是受通道长度调变的影响而降低的
但电晶体并不会因此而"坏掉"喔
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※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc)
◆ From: 71.60.19.253
1F：推 boboptt:了解~ 谢谢^^ 12/04 00:22