作者iwantzzz (努力读书)
看板ChemEng
标题[转录][学科] SEM相关问题
时间Sun Jun 28 22:53:11 2009
※ [本文转录自 Chemistry 看板]
作者: blackangel (白云丝) 看板: Chemistry
标题: [学科] SEM相关问题
时间: Sun Jun 28 00:54:55 2009
1.扫描电子显微镜/X 射线能谱法（SEM/EDS）在监识上常用以观测微细碎粒的形状
及分析所含的金属元素。试说明
(a)微细碎粒在萤幕上构成影像的原理；
(b)X 射线产生的机制及K 系列（K series）谱线及L 系列（L series）谱线的区别。
并说明所得 X 射线能谱的特性与用途。
2.请比较扫瞄式电子显微镜(SEM)及穿透式电子显微镜(TEM)的相异处。
这些问题 我有先查过原文书了
但觉得说法有点抽象
SEM是产生二次电子 所成像的。TEM是靠高压电子源。
但我比较不出SEM和TEM的优劣处
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1F：→ imdean:TEM 还可作SAD及Moire patterns 06/29 00:17
2F：→ imdean:去问问有修电镜的人 会得到更详细的资料 06/29 00:18
3F：推 gary73183:我只能说修这门课是天书 06/29 01:34
4F：推 NBL123:小大二还是不要现丑好了.... 06/29 01:56