作者ytnien (Ben)
看板ChemEng
标题Re: [问题] 有关光子激发光谱仪(PL光谱)的问题
时间Fri Jul 4 17:55:48 2008
※ 引述《Jeffch (Jeff)》之铭言：
: ※ 引述《pabjacky (尊重多数人决定)》之铭言：
: : 光子激发光谱仪主要分为EXITATION以及EMISSION两部份
: : 通常在量测上都会先用EXITATION找出激发波长
: : 再利用所测量的激发波长采用EMISSION方式来得到该波长的强度
: : 问题在於EMISSION所侦测强度的强弱，有何意义？
: : 是薄膜厚度差异造成，还是另有其他原因。
: 膜厚的确会造成发光谱线很大的不同，
: ，不晓得您蒸镀厚度有多厚，尤其大於半波长後波导效应就会出来了
: 不过相关的探讨很多PAPER上都查得到
: 有兴趣可以去搜寻看看
: (厚度与发光波长SHIFT的关系...当然也有和强度的关系)
若以萤光材料来说
一般都是以掺杂方式控制萤光强度
所以也可以说藉由萤光强度可了解掺杂浓度及分布状况
若以薄膜型来说 当然厚度会影响放射光强度
因为被激发区域多寡不同
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